Ve vodě dispergované částice bentonitu po vysušení na skleněné podložce.
Optický mikroskop ZEISS AMPLIVAL, tmavé pole, CCD kamera JAI, zvetšení 20x15.
Snímky zpracovány s použitím softwaru SIS-EFI(Extended Focal Imaging).

Struktura bentonitu v okolí smykové plochy po zkoušce válcového vzorku při osově symetrickém namahání.
Snímek videomikroskop OLYMPUS OVM1000NM, zvětšení 200x.